展品介紹

為解決高密度種植作物如玉米在行間冠層下難以觀測(cè)的問(wèn)題，突破傳統(tǒng)無(wú)人機(jī)表型技術(shù)在冠層下可視盲區(qū)的限制，設(shè)計(jì)研發(fā)了冠層下機(jī)器人表型平臺(tái)。采集表型數(shù)據(jù)可用于精準(zhǔn)提取株數(shù)、株距、莖粗、莖葉夾角、冠層孔隙度、保綠度及雌穗吐絲狀態(tài)，實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵農(nóng)藝性狀的高效、自動(dòng)化獲取。